自動化不銹鋼管(guan)漏磁檢測中，單點測量單元很難滿足檢測的要求，必須采用陣列檢測探頭，由多個單點測量單元按一定的規律排列，并將各單元檢測信號實施疊加或差動組合而成。
陣列檢測(ce)探頭是磁(ci)場傳感(gan)器的載體和組合，是漏(lou)(lou)磁(ci)檢測(ce)信(xin)號的收(shou)集器。隨著漏(lou)(lou)磁(ci)檢測(ce)應用(yong)的不斷深入(ru)和檢測(ce)要求的逐步提高，除了磁(ci)化問題，另一個核心就是漏(lou)(lou)磁(ci)檢測(ce)探頭的設計。若探頭性能不好或者不合適，則會出現漏(lou)(lou)判或者誤判，嚴重(zhong)影響(xiang)漏(lou)(lou)磁(ci)檢測(ce)的可靠性。
另一(yi)方(fang)面，沒有(you)一(yi)種探(tan)頭(tou)是萬能的(de)(de)。由于自然缺陷的(de)(de)形態千變(bian)萬化(hua)，檢(jian)(jian)測(ce)(ce)探(tan)頭(tou)必然存在局(ju)限性，漏判或誤判的(de)(de)情況(kuang)在檢(jian)(jian)測(ce)(ce)實踐中時有(you)發生。下面對檢(jian)(jian)測(ce)(ce)探(tan)頭(tou)的(de)(de)內部結(jie)構和檢(jian)(jian)測(ce)(ce)特性進行分析。
一、漏磁檢測探(tan)頭的結構形式
目前，最具代表(biao)性的(de)(de)不銹鋼管(guan)漏磁(ci)檢(jian)測(ce)傳(chuan)感器有(you)兩種(zhong)：霍(huo)爾元件和(he)感應(ying)線圈，尤其是集成霍(huo)爾元件和(he)光刻平(ping)面線圈。為了(le)獲得較(jiao)高的(de)(de)磁(ci)場測(ce)量空(kong)間分辨力(li)和(he)相對寬廣(guang)的(de)(de)掃查(cha)范圍，檢(jian)測(ce)探(tan)頭(tou)芯結構(gou)有(you)多種(zhong)形式。
1. 點(dian)檢(jian)測(ce)(ce)形式 在(zai)檢(jian)測(ce)(ce)探(tan)(tan)頭(tou)中，對某(mou)一點(dian)上或微小(xiao)區域的漏磁場測(ce)(ce)量，并(bing)且每(mei)個(ge)(ge)測(ce)(ce)點(dian)對應(ying)于一個(ge)(ge)獨立的信(xin)號通道，如圖3-6a所(suo)示，以下簡稱為(wei)點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)。很明(ming)顯，點(dian)檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)中每(mei)個(ge)(ge)點(dian)能夠掃(sao)查的檢(jian)測(ce)(ce)范圍(wei)很小(xiao)，但空間(jian)分(fen)辨力(li)高，如單(dan)個(ge)(ge)霍爾元件的敏感面積只(zhi)有(you)0.2×0.2m㎡，點(dian)檢(jian)用檢(jian)測(ce)(ce)線圈也可(ke)做到φ1mm內。
2. 線(xian)檢測(ce)形(xing)式 在檢測(ce)探(tan)頭(tou)(tou)中，對(dui)一條線(xian)上的漏(lou)磁場進行綜合(he)測(ce)量，如圖3-6b所(suo)示(shi)，以(yi)下簡稱為線(xian)檢探(tan)頭(tou)(tou)。例(li)如，用感應(ying)線(xian)圈檢測(ce)時，將線(xian)圈做(zuo)成條狀，則它(ta)感應(ying)的是線(xian)圈掃(sao)查路徑對(dui)應(ying)空(kong)間范圍內的漏(lou)磁通(tong)的變化(hua)。用霍爾元(yuan)件檢測(ce)時，采用線(xian)陣排(pai)列，將多個元(yuan)件檢測(ce)信(xin)號(hao)用加法器疊(die)加后輸出單(dan)個通(tong)道信(xin)號(hao)，則該信(xin)號(hao)反(fan)映的是霍爾元(yuan)件線(xian)陣長(chang)度(du)內的磁感應(ying)強度(du)的平均值。
在漏磁檢測中，上述兩種形(xing)式是(shi)最基本(ben)的形(xing)式，由此(ci)可以組合成多種形(xing)式的探頭(tou)，如圖(tu)3-6c所(suo)示(shi)的平面內的面陣(zhen)列探頭(tou)，以及圖(tu)3-6d所(suo)示(shi)的多個平面上的立體(ti)陣(zhen)列探頭(tou)。
二(er)、漏磁(ci)檢(jian)測探(tan)頭的檢(jian)測特性
1. 缺陷(xian)類型
不銹(xiu)鋼管(guan)在(zai)進行漏(lou)磁檢測方法(fa)和設(she)備的考核時，常采用機加工或電火花(hua)方式刻制標(biao)準人工缺(que)(que)陷(xian)，自然缺(que)(que)陷(xian)可表達(da)成(cheng)它們的組合形式。為便(bian)于分(fen)析和精確評(ping)估，將標(biao)準缺(que)(que)陷(xian)分(fen)成(cheng)下列三類。
（1）點(dian)(dian)狀缺(que)陷 點(dian)(dian)狀缺(que)陷的(de)面(mian)積小，集中在(zai)一(yi)(yi)點(dian)(dian)或小圈內(nei)，如標準缺(que)陷里的(de)通孔，自然缺(que)陷里的(de)蝕坑、斑點(dian)(dian)、氣孔等(deng)，它們產生(sheng)的(de)漏磁場是一(yi)(yi)個集中的(de)點(dian)(dian)團狀場，分布范圍(wei)小。
（2）線狀缺(que)陷 線狀缺(que)陷的(de)寬長比很(hen)小，形成(cheng)一條(tiao)線，如標準缺(que)陷里的(de)矩(ju)形刻槽(cao)、自然缺(que)陷里的(de)裂紋等(deng)，它(ta)們(men)產(chan)生的(de)漏磁場是沿線條(tiao)的(de)帶狀場。
（3）體狀缺(que)陷 體狀缺(que)陷的長(chang)、寬、深尺寸均較大，形成坑或窩(wo)，如標準缺(que)陷中的大不通孔、自然缺(que)陷里的片狀腐蝕(shi)等，它們(men)產生的漏(lou)磁場分布范圍廣。
2. 不同結構探頭的檢測特性
不銹鋼(gang)管在(zai)漏磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)中(zhong)，特別要(yao)強(qiang)調空間和方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)的(de)概念。因為，漏磁(ci)(ci)場是(shi)空間場，且(qie)具(ju)有方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)性；漏磁(ci)(ci)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)信號是(shi)時間域(yu)的(de)，且(qie)沒有相位信息(xi)；不僅檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)探頭(tou)具(ju)有敏(min)感方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)，而且(qie)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)探頭(tou)的(de)掃查路徑也具(ju)有方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)性，不同方(fang)(fang)向(xiang)(xiang)均會(hui)對檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)信號及(ji)其(qi)特征(zheng)產生影響。
另一(yi)方(fang)面，應(ying)(ying)該(gai)特別注意缺陷漏磁(ci)場的表征形式，在(zai)(zai)這里，漏磁(ci)場強(qiang)度(du)和漏磁(ci)場梯度(du)存在(zai)(zai)著本質的不同(tong)。霍爾(er)(er)元(yuan)件和感應(ying)(ying)線圈(quan)兩(liang)種器件的應(ying)(ying)用也(ye)有(you)著根本的區別。霍爾(er)(er)元(yuan)件可以(yi)測量空(kong)(kong)間某點上的磁(ci)場強(qiang)度(du)，而感應(ying)(ying)線圈(quan)卻無(wu)法實現；感應(ying)(ying)線圈(quan)感應(ying)(ying)的是(shi)空(kong)(kong)間一(yi)定范圍內的磁(ci)通(tong)量的變(bian)化(hua)程(cheng)度(du)，相反(fan)，霍爾(er)(er)元(yuan)件不可以(yi)測量磁(ci)通(tong)量的變(bian)化(hua)，它測量的是(shi)一(yi)定空(kong)(kong)間范圍內的磁(ci)感應(ying)(ying)強(qiang)度(du)的平均值。
下面(mian)將(jiang)逐一分析(xi)兩種(zhong)基本探(tan)頭形(xing)式(shi)對不同(tong)類型缺陷的檢(jian)測信號特性(xing)。
a. 點檢探頭的(de)信(xin)號特性
點(dian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭測量(liang)的(de)(de)是(shi)空間某點(dian)上的(de)(de)漏(lou)磁感應強(qiang)度(du)或磁通量(liang)的(de)(de)變(bian)化。點(dian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭對(dui)點(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)(xian)的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測是(shi)“針尖對(dui)麥芒”，空間相(xiang)對(dui)位置的(de)(de)微小變(bian)化，均有可(ke)能引起檢(jian)(jian)(jian)(jian)測信號(hao)幅度(du)的(de)(de)波(bo)動。點(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)(xian)的(de)(de)漏(lou)磁場(chang)分布是(shi)尖峰狀(zhuang)的(de)(de)，當點(dian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭正對(dui)峰頂時(shi)，信號(hao)幅度(du)最大，偏(pian)離時(shi)信號(hao)幅度(du)將(jiang)急劇下降。因此(ci)，用點(dian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)探(tan)(tan)頭去檢(jian)(jian)(jian)(jian)測點(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)(xian)時(shi)將(jiang)會產生不(bu)穩定(ding)的(de)(de)信號(hao)，導致(zhi)(zhi)誤(wu)判或漏(lou)判。進(jin)行檢(jian)(jian)(jian)(jian)測設備標定(ding)時(shi)，也難將(jiang)各通道的(de)(de)靈敏(min)度(du)調(diao)整到一(yi)致(zhi)(zhi)。
點檢探頭檢測線狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)時，很容易掃查到線狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)產生(sheng)的(de)“山脈”狀(zhuang)(zhuang)漏磁場(chang)的(de)某一(yi)個縱斷面，檢測信號幅度(du)將(jiang)正比于(yu)線狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)的(de)深度(du)。當線狀(zhuang)(zhuang)缺(que)(que)陷(xian)長度(du)大(da)于(yu)一(yi)定值時，設備標(biao)定或檢測信號的(de)一(yi)致性和穩(wen)定性均較(jiao)好。
b. 線檢(jian)探頭的信號特性
線檢(jian)探(tan)頭(tou)測(ce)(ce)量的(de)(de)是(shi)探(tan)頭(tou)長(chang)度(du)范圍(wei)內的(de)(de)平均磁感應強度(du)或磁通量的(de)(de)變化。與(yu)(yu)(yu)點檢(jian)探(tan)頭(tou)相比，線檢(jian)探(tan)頭(tou)的(de)(de)輸出信號特性(xing)不(bu)但(dan)與(yu)(yu)(yu)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)的(de)(de)深(shen)(shen)度(du)有關，而(er)且與(yu)(yu)(yu)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)的(de)(de)長(chang)度(du)有關，最終與(yu)(yu)(yu)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)缺(que)(que)(que)(que)失的(de)(de)截面積成比例。這(zhe)類(lei)探(tan)頭(tou)不(bu)能直接獲得與(yu)(yu)(yu)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)深(shen)(shen)度(du)相關的(de)(de)信息，因為長(chang)而(er)淺的(de)(de)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)與(yu)(yu)(yu)短而(er)深(shen)(shen)的(de)(de)缺(que)(que)(que)(que)陷(xian)在檢(jian)測(ce)(ce)信號幅度(du)上有可(ke)能是(shi)一樣的(de)(de)。
線(xian)檢(jian)探頭對點狀缺(que)陷(xian)的(de)檢(jian)測是“滴水不漏”。由于線(xian)檢(jian)探頭的(de)長度遠大于點狀缺(que)陷(xian)的(de)長度，在檢(jian)測路徑上，缺(que)陷(xian)相對于探頭位置變化(hua)時(shi)，不會影響檢(jian)測信號的(de)幅度，因而(er)一致性較好。
線(xian)檢(jian)探頭(tou)檢(jian)測線(xian)狀(zhuang)缺(que)陷時，情況(kuang)較(jiao)為復雜，探頭(tou)與缺(que)陷的長度(du)比以及位(wei)置(zhi)關系均會影響信號(hao)幅值(zhi)。下(xia)面舉例分析(xi)。
如圖3-7a所(suo)示(shi)，用有(you)效長(chang)(chang)度為25mm的(de)(de)線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)檢(jian)測25mm長(chang)(chang)的(de)(de)刻(ke)槽(cao)。當探(tan)(tan)頭(tou)(tou)正對(dui)刻(ke)槽(cao)時，獲(huo)得(de)最大的(de)(de)信(xin)(xin)號(hao)幅(fu)值；當探(tan)(tan)頭(tou)(tou)與(yu)刻(ke)槽(cao)的(de)(de)位置錯開(kai)時，信(xin)(xin)號(hao)幅(fu)值將(jiang)隨著探(tan)(tan)頭(tou)(tou)與(yu)缺(que)陷(xian)(xian)交叉(cha)重疊程度的(de)(de)減小而減弱(ruo)，此種狀態(tai)對(dui)檢(jian)測是(shi)不(bu)利的(de)(de)，不(bu)論是(shi)設備標定還是(shi)檢(jian)測應用均(jun)很難獲(huo)得(de)一致(zhi)的(de)(de)檢(jian)測信(xin)(xin)號(hao)。圖3-7中(zhong)左(zuo)邊的(de)(de)粗線段為線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)，中(zhong)間(jian)的(de)(de)細線段為不(bu)同位置的(de)(de)線狀缺(que)陷(xian)(xian)，右(you)邊為不(bu)同探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)檢(jian)測信(xin)(xin)號(hao)幅(fu)度。為實現線檢(jian)探(tan)(tan)頭(tou)(tou)的(de)(de)一致(zhi)性檢(jian)測，有(you)如下(xia)兩種做法：
①. 減小線檢(jian)(jian)探(tan)頭的有(you)效(xiao)長(chang)度，讓(rang)它小于或等于線狀(zhuang)缺陷長(chang)度的一(yi)半，同時(shi)將相(xiang)鄰檢(jian)(jian)測探(tan)頭按50％重疊布置，如圖3-7b所示。可以看出，不論缺陷從(cong)哪個路徑(jing)通過探(tan)頭陣列，均可在(zai)某(mou)一(yi)檢(jian)(jian)測單元(yuan)中獲得一(yi)個最大的信號幅值，而在(zai)其(qi)他(ta)檢(jian)(jian)測單元(yuan)中得到較小的信號幅值。
此時，由于線狀(zhuang)缺陷長度(du)遠(yuan)大于探(tan)頭(tou)(tou)長度(du)，檢測探(tan)頭(tou)(tou)測量的(de)是漏磁場(chang)“山脈”中(zhong)的(de)某一(yi)(yi)段(duan)，如果線狀(zhuang)缺陷深(shen)度(du)一(yi)(yi)致，它可(ke)以直接(jie)反映出深(shen)度(du)信息。將(jiang)線檢探(tan)頭(tou)(tou)的(de)長度(du)再不(bu)斷縮小，線檢探(tan)頭(tou)(tou)則變成點檢探(tan)頭(tou)(tou)。此時，在采用標準人工缺陷進行設(she)備標定時，任何狀(zhuang)態均可(ke)得到一(yi)(yi)致的(de)檢測信號。
②. 增加線檢探頭的有效長度，使它超過線狀缺陷長度的2倍以上，同時將相鄰檢測探頭按50％重疊布置，如圖3-7c所示。這樣，以任何路徑掃查缺陷時，均可獲得至少一個最大的檢測信號幅值。
此種(zhong)檢測方法測量的是線(xian)狀缺(que)陷(xian)的平(ping)均磁感應(ying)強度(du)，因而，它(ta)反映不了(le)線(xian)狀缺(que)陷(xian)的深(shen)度(du)信息。當(dang)缺(que)陷(xian)的長度(du)逐漸(jian)減小(xiao)時，則(ze)轉變成線(xian)檢探頭對點(dian)狀缺(que)陷(xian)的檢測。
3. 面(mian)向對象的檢測(ce)探頭設計和(he)選(xuan)用
在漏磁檢測(ce)中，應該根據具(ju)體的檢測(ce)要(yao)求(qiu)來設計(ji)和選擇合適的探頭芯結構，下面給出(chu)幾種(zhong)探頭設計(ji)和選用原則(ze)。
a. 缺陷(xian)的深度(du)檢(jian)測(ce)(ce)應(ying)該選(xuan)擇點(dian)檢(jian)探頭 點(dian)檢(jian)探頭反映(ying)的是(shi)局部(bu)磁感應(ying)強度(du)或其(qi)變化。當(dang)裂紋較長(chang)時，測(ce)(ce)點(dian)相(xiang)當(dang)于對(dui)無(wu)限長(chang)矩形槽的探測(ce)(ce)，因而，測(ce)(ce)點(dian)的信號(hao)幅(fu)度(du)與缺陷(xian)深度(du)密切相(xiang)關。但(dan)是(shi)，當(dang)線狀缺陷(xian)越(yue)(yue)來越(yue)(yue)短時，測(ce)(ce)量的誤差也就(jiu)越(yue)(yue)來越(yue)(yue)大(da)，特別地，對(dui)點(dian)狀缺陷(xian)的深度(du)探測(ce)(ce)幾乎不(bu)可能。
在鋼管漏磁檢測校樣(yang)過程中，一(yi)般均(jun)以通孔(kong)(kong)作為標定試樣(yang)上的(de)標準缺(que)陷，這樣(yang)，大、小孔(kong)(kong)的(de)深(shen)度(du)(du)一(yi)致，孔(kong)(kong)徑尺(chi)寸(cun)反(fan)映出缺(que)失截面(mian)積(ji)的(de)線(xian)性(xing)變(bian)化，因(yin)而(er)，漏磁磁通量也將(jiang)發生線(xian)性(xing)變(bian)化。對于不(bu)(bu)通孔(kong)(kong)，當孔(kong)(kong)的(de)深(shen)度(du)(du)和直徑均(jun)為變(bian)量時，僅(jin)通過尋找孔(kong)(kong)深(shen)與孔(kong)(kong)徑的(de)乘(cheng)積(ji)與信號幅度(du)(du)關系去反(fan)演或(huo)推(tui)算(suan)深(shen)度(du)(du)是不(bu)(bu)可(ke)能的(de)。這也是僅(jin)采(cai)用漏磁方法進(jin)行檢測的(de)不(bu)(bu)足(zu)。
b. 缺陷的(de)損(sun)失截(jie)面(mian)積檢(jian)測(ce)應該選擇線檢(jian)探頭(tou) 線檢(jian)探頭(tou)的(de)信號幅度(du)與缺陷損(sun)失的(de)截(jie)面(mian)積成(cheng)比例，因而(er)有較好的(de)測(ce)量精度(du)。在有些檢(jian)測(ce)對象中應用較好。
c. 缺(que)(que)陷(xian)的長度(du)(du)檢測應該用(yong)點(dian)(dian)檢探(tan)(tan)頭(tou)陣列(lie)或(huo)點(dian)(dian)線(xian)組(zu)合式探(tan)(tan)頭(tou) 點(dian)(dian)檢探(tan)(tan)頭(tou)敏感于缺(que)(que)陷(xian)的深度(du)(du)，當(dang)采用(yong)點(dian)(dian)檢探(tan)(tan)頭(tou)陣列(lie)時，缺(que)(que)陷(xian)長度(du)(du)覆蓋的通道數量可(ke)以(yi)反映其長度(du)(du)信息；另一(yi)方(fang)面，當(dang)線(xian)檢探(tan)(tan)頭(tou)大于缺(que)(que)陷(xian)的長度(du)(du)時，感應的是深度(du)(du)和長度(du)(du)的共同信息，如在其感應范(fan)圍內并列(lie)布置(zhi)一(yi)個或(huo)多個點(dian)(dian)檢探(tan)(tan)頭(tou)感受(shou)深度(du)(du)信息，則(ze)裂紋的長度(du)(du)就可(ke)以(yi)計(ji)算出(chu)來。
從信號(hao)處理角(jiao)度(du)來(lai)看(kan)，點線組合式探(tan)頭(tou)需要的通道數量較少，可以(yi)同時獲得缺(que)陷的深度(du)、長度(du)、缺(que)失截面積(ji)等信息，具有較強的應用價值。
d. 斜(xie)向(xiang)(xiang)裂(lie)紋(wen)采(cai)用(yong)點檢(jian)探(tan)頭陣列檢(jian)測(ce) 在漏(lou)磁檢(jian)測(ce)中，當缺陷(xian)走(zou)向(xiang)(xiang)與磁化場(chang)方向(xiang)(xiang)不垂直時，漏(lou)磁場(chang)的強度將(jiang)降低，從而(er)獲得較小(xiao)的信(xin)號幅(fu)值。因(yin)此，斜(xie)向(xiang)(xiang)缺陷(xian)的檢(jian)測(ce)與評估，需要首先(xian)檢(jian)測(ce)出裂(lie)紋(wen)的走(zou)向(xiang)(xiang)，并(bing)且根據走(zou)向(xiang)(xiang)修(xiu)正漏(lou)磁場(chang)信(xin)號幅(fu)度，再進行深度判別。
另一方面(mian)，當探(tan)頭掃查路徑垂直于(yu)缺(que)陷(xian)走(zou)向時(shi)，檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)(xin)號(hao)幅值最(zui)大；隨著兩者夾角不斷減(jian)小，檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)(xin)號(hao)幅值逐(zhu)漸降低，同時(shi)信(xin)(xin)號(hao)特性也將發生明顯變(bian)化。此(ci)時(shi)，線(xian)檢(jian)(jian)探(tan)頭的(de)檢(jian)(jian)測(ce)信(xin)(xin)號(hao)特性變(bian)化很大，點檢(jian)(jian)探(tan)頭的(de)信(xin)(xin)號(hao)幅度波動卻很小。因此(ci)，可利用點檢(jian)(jian)探(tan)頭陣列中各(ge)通道獲得最(zui)大幅值的(de)時(shi)間差(cha)異來(lai)推算缺(que)陷(xian)走(zou)向，為后續的(de)信(xin)(xin)號(hao)補(bu)償與缺(que)陷(xian)判別奠(dian)定基礎(chu)，如圖3-8所示。
漏(lou)磁(ci)設備的檢測(ce)能力與(yu)探頭芯結構密切相關(guan)，從目前應用(yong)情況來看，漏(lou)磁(ci)檢測(ce)方法(fa)對(dui)內(nei)外部腐蝕坑、內(nei)外部周／軸向裂(lie)紋(wen)(wen)均(jun)有較好(hao)的檢測(ce)精(jing)度，同時，對(dui)斜(xie)向裂(lie)紋(wen)(wen)具有一定的檢測(ce)能力。但是，漏(lou)磁(ci)檢測(ce)方法(fa)對(dui)微(wei)裂(lie)紋(wen)(wen)，如初期(qi)的疲勞裂(lie)紋(wen)(wen)、熱(re)處理的應力裂(lie)紋(wen)(wen)、軋(ya)制時的微(wei)機械裂(lie)紋(wen)(wen)和折疊不太敏感(gan)。究其(qi)原因，微(wei)裂(lie)紋(wen)(wen)的開口(kou)均(jun)小于0.05mm，漏(lou)磁(ci)場強度較低(di)，因此，有必(bi)要輔以渦流、超聲等其(qi)他檢測(ce)方法(fa)。
我國進口漏磁檢測設備采用的(de)(de)(de)(de)基本都(dou)是基于(yu)線圈的(de)(de)(de)(de)線檢探頭，這種(zhong)配置需要(yao)的(de)(de)(de)(de)信(xin)號通道數量相對(dui)較少、探靴的(de)(de)(de)(de)有效(xiao)覆蓋(gai)范圍大。但是，這種(zhong)方式對(dui)缺陷的(de)(de)(de)(de)深(shen)度評(ping)定需要(yao)一定的(de)(de)(de)(de)輔(fu)助(zhu)條件，而且對(dui)斜向缺陷的(de)(de)(de)(de)檢測靈(ling)敏度較低。
在具體應用過程中，首先(xian)應分析檢測要(yao)求和(he)對象特點(dian)，其次要(yao)認識探頭(tou)芯的(de)(de)(de)(de)形式和(he)結構。總的(de)(de)(de)(de)來講，采用線(xian)檢探頭(tou)去檢測線(xian)狀(zhuang)缺陷(xian)的(de)(de)(de)(de)深度信息和(he)采用點(dian)檢探頭(tou)去評定點(dian)狀(zhuang)缺陷(xian)的(de)(de)(de)(de)長度信息均是不(bu)現實(shi)的(de)(de)(de)(de)；高精度的(de)(de)(de)(de)檢測需要(yao)以大(da)量的(de)(de)(de)(de)獨立測量通道和(he)信號(hao)處理系統為代價(jia)，因此，應根據檢測目標綜(zong)合權衡。
