無損檢測就是利用聲(sheng)、光、磁(ci)和(he)電等特性，在(zai)不(bu)損害或(huo)不(bu)影響被(bei)(bei)檢對(dui)象(xiang)使用性能的前(qian)提(ti)下，檢測被(bei)(bei)檢對(dui)象(xiang)中是否存在(zai)缺(que)陷或(huo)不(bu)均勻性，給出缺(que)陷的大小、位置、性質和(he)數量等信息，進而判定被(bei)(bei)檢對(dui)象(xiang)所處(chu)技術狀態(如(ru)合格與(yu)否、剩余壽命等)的所有技術手段的總稱(cheng)。常用的無損檢測方法：超聲(sheng)檢測(UT)、磁(ci)粉檢測(MT)、液體滲透檢測(PT)及(ji)X射(she)線檢測(RT)。       


  超(chao)聲波檢(jian)測已經(jing)單獨詳細(xi)的介紹過了，下(xia)(xia)面(mian)就簡單地對(dui)剩(sheng)下(xia)(xia)的三個(ge)進行介紹和對(dui)比。       


 首先(xian)來了解(jie)一(yi)下(xia)，磁(ci)粉(fen)檢測(ce)的原理。鐵磁(ci)性(xing)材料和(he)工件被磁(ci)化后，由(you)于不連續性(xing)的存在，工件表面(mian)和(he)近表面(mian)的磁(ci)力(li)線(xian)發生(sheng)局部畸變，而(er)產(chan)生(sheng)漏磁(ci)場，吸(xi)附(fu)施加在工件表面(mian)的磁(ci)粉(fen)，形成在合適光照下(xia)目視可見的磁(ci)痕(hen)，從而(er)顯示出不連續性(xing)的位置、形狀和(he)大小。       


 磁粉檢(jian)測的適(shi)用(yong)性和局限(xian)性有：


 1. 磁粉探傷適用于檢測(ce)鐵(tie)磁性材料表面(mian)和近表面(mian)尺寸很(hen)小、間(jian)隙極(ji)窄目視難以看出的不連續性。       


 2. 磁粉檢測(ce)(ce)可對多種情況下的零部件(jian)檢測(ce)(ce)，還可多種型件(jian)進(jin)行檢測(ce)(ce)。       


 3. 可發現(xian)裂紋(wen)、夾雜、發紋(wen)、白點、折疊、冷隔和疏松等缺陷。       


 4. 磁粉(fen)檢(jian)測(ce)不(bu)(bu)能檢(jian)測(ce)奧氏(shi)體(ti)不(bu)(bu)銹鋼材料和(he)(he)用奧氏(shi)體(ti)不(bu)(bu)銹鋼焊(han)(han)(han)條焊(han)(han)(han)接的焊(han)(han)(han)縫，也不(bu)(bu)能檢(jian)測(ce)銅(tong)鋁鎂鈦等非磁性(xing)材料。對于表(biao)面淺劃(hua)傷(shang)、埋藏較深洞(dong)和(he)(he)與工(gong)件表(biao)面夾角小于20°的分層(ceng)和(he)(he)折疊很難發(fa)現。


  液(ye)(ye)體滲(shen)(shen)透(tou)檢測(ce)的(de)基本原理，零件(jian)表(biao)(biao)面(mian)被施涂(tu)(tu)含有熒光染料或著色染料后，在(zai)一段時間的(de)毛(mao)細管作(zuo)用下(xia)，滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)(ye)可以滲(shen)(shen)透(tou)進表(biao)(biao)面(mian)開(kai)口缺陷(xian)中；經(jing)去除(chu)零件(jian)表(biao)(biao)面(mian)多(duo)余的(de)滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)(ye)后，再在(zai)零件(jian)表(biao)(biao)面(mian)施涂(tu)(tu)顯(xian)像(xiang)劑，同樣，在(zai)毛(mao)細管的(de)作(zuo)用下(xia)，顯(xian)像(xiang)劑將吸引缺陷(xian)中保留的(de)滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)(ye)，滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)(ye)回滲(shen)(shen)到顯(xian)像(xiang)劑中，在(zai)一定的(de)光源下(xia)(紫外線光或白光)，缺陷(xian)處的(de)滲(shen)(shen)透(tou)液(ye)(ye)痕跡被現(xian)實，(黃綠色熒光或鮮艷紅(hong)色)，從而探測(ce)出缺陷(xian)的(de)形貌及(ji)分(fen)布狀態。        


 滲透(tou)檢測的優點：1. 可(ke)檢(jian)測各種材料； 2. 具有較高的靈敏度；3. 顯示直(zhi)觀(guan)、操作(zuo)方便、檢(jian)測費用(yong)低。       


 滲透(tou)檢測的缺點：1. 不適(shi)于(yu)檢(jian)查(cha)多孔性疏松材料制成的工件和表面粗糙的工件；2. 滲(shen)透檢(jian)測只(zhi)能(neng)檢(jian)出缺陷的表面分(fen)布(bu)，難以確(que)定(ding)缺陷的實際深度，因而(er)很難對缺陷做(zuo)出定(ding)量評(ping)價。檢(jian)出結果(guo)受操作者(zhe)的影(ying)響也較大。       


 最后一種(zhong)，射線(xian)檢測，是(shi)(shi)因(yin)為 X射線(xian)穿過被(bei)照射物(wu)體(ti)后會(hui)(hui)有(you)損耗(hao)，不(bu)(bu)(bu)同(tong)(tong)厚度不(bu)(bu)(bu)同(tong)(tong)物(wu)質對它(ta)們的(de)吸(xi)收(shou)率不(bu)(bu)(bu)同(tong)(tong)，而底片放(fang)在被(bei)照射物(wu)體(ti)的(de)另一側，會(hui)(hui)因(yin)為射線(xian)強度不(bu)(bu)(bu)同(tong)(tong)而產生相(xiang)應的(de)圖形,評片人員就(jiu)可(ke)以(yi)(yi)根據影像(xiang)來判斷物(wu)體(ti)內部的(de)是(shi)(shi)否有(you)缺陷以(yi)(yi)及缺陷的(de)性質。 


 射線(xian)檢(jian)測(ce)的(de)(de)適(shi)用性和局限性：   1. 對檢(jian)測(ce)體積型的(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian)比較敏感，比較容易(yi)對缺(que)陷(xian)(xian)進行定(ding)性。 2. 射線(xian)底片(pian)易(yi)于保留，有追溯性。3. 直觀顯示缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)形(xing)狀和類型。  4. 缺(que)點(dian)不能(neng)定(ding)位缺(que)陷(xian)(xian)的(de)(de)埋藏深度，同時檢(jian)測(ce)厚度有限，底片(pian)需專門送(song)洗，并(bing)且對人身體有一(yi)定(ding)害，成本(ben)較高(gao)。     


  總而言之，超聲(sheng)波(bo)、X射(she)線(xian)探(tan)(tan)傷(shang)適用(yong)于探(tan)(tan)傷(shang)內部缺陷(xian)(xian)(xian)；其中(zhong)超聲(sheng)波(bo)適用(yong)于5mm以上，且(qie)形狀規則(ze)的部件(jian)，X射(she)線(xian)不能(neng)定位缺陷(xian)(xian)(xian)的埋藏(zang)深度，有輻射(she)。 磁粉、滲透探(tan)(tan)傷(shang)適用(yong)于探(tan)(tan)傷(shang)部件(jian)表面缺陷(xian)(xian)(xian)；其中(zhong)磁粉探(tan)(tan)傷(shang)僅(jin)(jin)限(xian)于檢測磁性材料，滲透探(tan)(tan)傷(shang)僅(jin)(jin)限(xian)于檢測表面開(kai)口缺陷(xian)(xian)(xian)。